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| RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱(chēng)雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應用到直線(xiàn)四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進(jìn)行兩次電測量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著(zhù)降低了幾何因素影響，從而提高了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規四探針測量方法所生產(chǎn)的儀器是無(wú)法實(shí)現的。 |
| RTS-9雙電測四探針軟件測試系統是一個(gè)運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶(hù)程序。測試程序在計算機與RTS-9型四探針測試儀連接的狀態(tài)下，通過(guò)計算機的并口實(shí)現通訊。 測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并實(shí)時(shí)采集兩次組合模式下的測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀(guān)地記錄、顯示出來(lái)。用戶(hù)可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶(hù)對數據進(jìn)行各種數據分析 |
技術(shù)參數：
測量范圍 | 電阻率：10-5～105 Ω.cm(可擴展)； 方塊電阻：10-4～106 Ω/□(可擴展)； 電導率：10-5～105 s/cm； 電阻：10-5～105 Ω； |
可測晶片厚度 | ≤3mm |
可測晶片直徑 | 140mmX150mm(配S-2A型測試臺)； 200mmX200mm(配S-2B型測試臺)； 400mmX500mm(配S-2C型測試臺)； |
恒流源 | 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續可調 |
數字電壓表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV； 分辨力：10μV； 輸入阻抗：>1000MΩ； 精度：±0.1% ； 顯示：四位半紅色發(fā)光管數字顯示；極性、超量程自動(dòng)顯示； |
四探針探頭基本指標 | 間距：1±0.01mm； 針間絕緣電阻：≥1000MΩ； 機械游移率：≤0.3%； 探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm； 探針壓力：5～16 牛頓(總力)； |
四探針探頭應用參數 | (見(jiàn)探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對誤差 | 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
整機測量zui大相對誤差 | (用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±4% |
整機測量標準不確定度 | ≤4% |
測試標準 | 采用雙電測測試標準，通過(guò)RTS-9雙電測測試軟件控制四探針測試儀進(jìn)行測量并實(shí)時(shí)采集兩次組合模式下的電壓值，然后根據雙電測測試原理公式計算出電阻值。儀器主機也可兼容RTS-8四探針測試軟件實(shí)現單電測測試標準，兩套軟件可同時(shí)使用。 |
軟件功能 | 軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測試數據，并統計分析測試數據zui大值、zui小值、平均值、zui大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數據生成直方圖，也可把測試數據輸出到Excel中，對數據進(jìn)行各種數據分析。軟件還可選擇自動(dòng)測量功能，根據樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測試。 |
計算機通訊接口 | 并口，高速并行采集數據。 |
標準使用環(huán)境 | 溫度：23±2℃； 相對濕度：≤65%； 無(wú)高頻干擾； 無(wú)強光直射； |
| 配置 | 四探針測試儀主機、S-2A型探針臺、FT-201四探針探頭、測試軟件(含測控模塊) | 23000/套 | ||||||
| 配置 | 四探針測試儀主機、S-2A型探針臺、FT-201四探針探頭、臺式電腦 | 28000/套 | ||||||
| 配置 | 四探針測試儀主機、S-2A型探針臺、FT-201四探針探頭、IBM筆記本電腦 | 38000/套 | ||||||
| 備注 | 用戶(hù)可按實(shí)際需要選擇配置，電腦可按用戶(hù)要求以市場(chǎng)價(jià)配置或自行購置安裝測試軟件即可 | |||||||
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